產(chǎn)品詳情
簡單介紹：
只要一次數(shù)據(jù)采集，就可以得到平行平板前表面和后表面的平面度，同時還能得到平行平板的光學厚度
詳情介紹：
Verifire? MST多表面測量
Verifire? MST激光干涉儀提供了一個****的嶄新的測量方式和能力，傳統(tǒng)的激光干涉儀應用是測量兩個面的波前變化，也就是說測量一個由兩個面所形成的腔。但是，如果所測量的是一個沒有經(jīng)過鍍膜的平行平板，則就會產(chǎn)生兩個疊加的干涉條紋（三個面的腔所形成），這樣就會干擾標準的位相干涉測量分析。現(xiàn)在，ZYGO的Verifire? MST激光干涉儀解決了這一個問題，通過波長調(diào)制技術(shù)和ZYGO新的傅立葉變換方法，可以進行三個甚至四個平行面的測量，不僅可以顯示所有的面，并且可以排除其他的面而單獨顯示你所需要的面。
三平面干涉測量
激光干涉儀可以在你的測量中，只要一次數(shù)據(jù)采集，就可以得到平行平板前表面和后表面的平面度，同時還能得到平行平板的光學厚度：
?前表面形貌圖
?光學厚度變化
?物理厚度變化和后表面形變
四表面干涉測量
這一技術(shù)能夠通過兩次數(shù)據(jù)采集得到下列結(jié)果：
?前表面和后表面的形貌圖
?物理厚度變化
?光學厚度變化
?折射率變化
-非線性材料均勻性
-線性材料均勻性
